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CMI900(X荧光镀层测厚仪)

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更新时间：2023-04-22 22:05:31浏览次数：289次

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东莞市艾华仪器设备有限公司

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产品简介

产品简介：测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时

详细介绍

产品简介：测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

产品介绍：

CMI900镀层测厚仪特点：

精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽 NIST认证的标准片服务及支持

技术参数主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950

－样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm

－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm

－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm

－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。

激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包

－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。

－基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point and Shoot" 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能设定测量点连续多点测量测量位置预览(图表显示)