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宇航志达试验装备（东莞市）有限公司
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可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。
可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机产品应用:PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机
材质: SUS304#不锈钢板/特殊防锈理冷轧板喷塑烤漆（电脑白色）
温度范围: 110℃-132℃℃
功率: 2600W
工作室尺寸: Φ300×450mm
电源: AC1￠3W220V±10% 2A 50/60HZ
高温高压蒸煮仪也是PCT高压加速老化试验箱试验箱适应于电子老化试验箱航天、磁性材料
、塑胶、五金材料，用多层线路板，IC、LCD、磁铁灯饰，照明制品等产品密封性能。
2内箱尺寸：450x500mm圆形内箱，符合工业安全标准。
3外箱尺寸：700x650x850mm（W,H,D）
4内容量35kg。
三、高温高压蒸煮仪参数。
温度范围、100℃～132℃
温度波动度、±0.5℃
温度偏差、±0.5℃
温度范围、100℃RH（饱和蒸汽）
温度波动度、±2.0℃RH
加压时间、40分钟，+132℃
循环方式、水蒸气对流循环
四、高温高压材质
外箱材质、高级不锈钢
外箱材质、sus316#不锈钢箱体保温材质、高级超细玻璃棉
单门园门、把手门锁，内箱压力愈大时，反压会使箱体更紧密更结合，使设备寿命更延长。
五、高温高压蒸煮仪安全保护。
1、蒸煮箱，可调式高温保护
2、压力限制保护
3、缺水报*保护
4、温度加热器保护
5、漏电漏水保护
6、手动泄压保护，自动泄压保护
7、切断电源保护
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