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特点规格量测厚度,反射率,吸收率,表面结构量测波长632
特点 | 规格 |
---|---|
量测 | 厚度, 反射率, 吸收率, 表面结构 |
量测波长 | 632.8 nm(He-Ne 雷射) |
量测时间 | 100 ms~2 s |
量测厚度 | 2 nm~6000 nm |
样品平台 | 200 mm (自动 Rho/Theta) |
反射角检测 | 自动 / 手动 |
角度 | 45° – 90° / 12° – 90° |
变化角度 | 5° / 1° |
重复性 | 0.01° |
准确度 | Psi:0.002° Delta:0.002° |
厚度精确度 | 0.01nm( 80nm Si3N4 on Si) |
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