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日立X射线荧光光谱仪 X-Strata 920

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更新时间：2023-03-18 11:33:01浏览次数：691次

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中山利丰精密测量仪器有限公司

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产品简介

X射线荧光分析的优点：●最少或无需样品制备●无损分析●可测元素范围广：Ti22toU92●可分析固体和溶液●分析快速：几秒内得到结果●定性、半定量和全定量分析●操作容易，只需要简单培训详细参数请咨询客服！利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制

详细介绍

X射线荧光分析的优点：

●最少或无需样品制备

●无损分析

●可测元素范围广：Ti22 to U92

●可分析固体和溶液

●分析快速：几秒内得到结果

●定性、半定量和全定量分析

●操作容易，只需要简单培训 详细参数请咨询客服！

利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

X-Strata920 – 性价比高，无损可靠

一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。

新型号设计

快速分析（几秒）1-4层镀层厚度

多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型

开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等

符合ISO3487和ASTM B568检测方法

X-Strata920 - 三种配置满足您的需要：

固定样品台

开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度

经济、实用

平面样品台设计，适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析