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东莞市赛思检测设备有限公司
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简要描述：冷热冲击筛选试验箱对不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。
冷热冲击筛选试验箱赛思改变了传统进行温度循环、高低温冲击(2 Zoon)、高低温+常温冲击(3 Zoon)、应力筛选ESS，至少需要购买四台设备的状况。让您摆脱以往需添购很多种设备才能完成的试验，需耗费许多添购设备&占用空间的硬件成本， 一次解决您的需求，满足不同产品不同试验的多样性与多变性，提高机台使用的稼动率。并且不需再依不同待测品去耗费时间手动调整，我们的创新系统自动帮您搞定，赛思秉持着符合规范的原则，结合贴心的创新功能与技术，期待您详细了解。
冷热冲击筛选试验箱特点：
1.可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；2.等均温速率可设定范围5℃～30℃/min(40℃/min)；3.满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求；4.采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；5.除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成；6.通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；7.感测器放置测试区出（回）风口符合实验有效性；8.机台多处报警监测，配置无线远程报警功能；
技术规格：
型号 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
内箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
温度范围 | -80.00℃～+200.00℃ | |||
低温冲击范围 | -10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ | |||
高温冲击范围 | +60.00℃～+150.00℃ | |||
时间设定范围 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
温度波动度 | ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） | |||
温度偏差 | ≤±2℃（-65℃～+150℃） | |||
温度均匀度 | ＜2.00℃以内 | |||
温变速率（斜率） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
温变范围 | -55℃～+85℃//+125℃ | |||
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