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莱森光学(深圳)有限公司
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余弦校正辐射探头是一种用于光谱辐射测量的光学元件，用于收集180°立体角内的辐射光信号，从而消除了其它取样装置中光线收集装置几何结构中的光学接口问题。
余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件，用于收集180°立体角内的辐射（光线），从而消除了其它取样装置中光线收集装置几何结构中的光学接口问题。
CC-UV/VIS余弦校正器采用特氟龙（聚四氟乙烯）漫射材料，并对200-100nm波段优化。而对于VIS/NIR波段（350-2500nm）我们提供采用Radin石英材料的CC-VIS/NIR余弦校正器。两种余弦校正器都可以和任何SMA接头的光纤旋拧起来。当它和微型光纤光谱仪配合使用时，余弦校正器可以用来测量UV-A和UV-B太阳辐射、环境光、灯光和其它发光光源。
余弦校正器的外径为0.25英寸，其表面进行了氧化平滑发黑处理，非常坚固。散射材料是一个安装在壳底的薄片。余弦校准器有SMA905接头可以方便的与光纤耦合。
余弦校正器 CC-UV/VIS 角度响应曲线
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