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UVIR宽波段UV-SWIR成像测试系统

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更新时间：2024-04-16 14:21:13浏览次数：37次

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产品简介

UVIR宽波段UV-SWIR成像测试系统针对宽波段成像系统而开发，实际上是一个可变的靶标成像投影系统，通过用一系列不同的靶标来将它们的图像投射到被测相机接收方向，可测试的相机系统包括：紫外相机、VIS可见光相机、NIR相机、SWIR相机

详细介绍

UVIR宽波段UV-SWIR成像测试系统针对宽波段成像系统而开发，实际上是一个可变的靶标成像投影系统，通过用一系列不同的靶标来将它们的图像投射到被测相机接收方向，可测试的相机系统包括：紫外相机、VIS可见光相机、NIR相机、SWIR相机。

通过分析被测相机生成的图像，观察员或软件算法对图像质量进行评价，测量得出被测相机的重要特征参数，能够测量测量像质参数（分辨率、MRC、MTF）和辐射参数（灵敏度、噪声参数、响应函数）。

UVIR-A 测试系统主要由四个模块组成：CDT 离轴反射式光管， XE150-A 宽波段UV- SWIR 光源， MRW-8电动旋转靶轮，一组靶标，计算机，图像采集卡，TAS-A计算程序。 UVIR-B 在以上基础上升级了光源和计算程序，使用 XE150-B光源和TAS-B计算程序。

产品特征：

• 可在宽波段280nm到1700nm投影参考靶标图像

• 被测相机的光学口径不超过100 mm均可测量 (被测口径可提升)

• 可模拟暗夜和非常亮的白天

• 计算机化测试系统，可半自动测量UV-SWIR成像系统的重要参数（UVIR-B版本）

• 测试性能：

UVIR-A：分辨率，最小可分辨对比度MRC，MTF, 畸变，视场

UVIR-B：分辨率，最小可分辨对比度MRC，MTF, 畸变，视场，灵敏度，信噪比SNR，噪声等效照度，固定图形噪声FPN，不均匀性，响应函数，动态范围，线性度

CDT 光管
光管类型	离轴反射式
有效孔径	100 mm (可升级至200mm)
焦距	1000mm (可调整)
光谱范围	0.28-15 m
空间分辨率	不低于于100 lp/mrad
镀膜	保护铝膜
视场角	2.7° (可改装)
旋转靶轮
型号	MRW-8
孔位数量	8
控制方式	电动控制，数字式
靶标
直径	54 mm (孔位直径)
标准配置靶标	一组5种对比度USAF靶标，视场/畸变靶标，刀口靶标
选配非标靶标	4杆靶，针孔靶，轮廓靶
光源
有效区域	40 mm
光源型号	氙灯150W
发光光谱	250-1800nm
光谱	典型氙灯光谱
光亮度	高于 7000 cd/m2
光强调节类型	XE150-A: 手动连续调整 XE150-B: 电动连续调整
调节动态范围	XE150-A: >10 000 XE150-B: >1 000 0000
是否标定	XE150-A：未标定 XE150-B：已标定，标定单位cd/m2 或W/ m2
计算机
基本信息	主流配置计算机
图像采集卡
可选格式	可从中选择1到2个：模拟视频, CL, GigE, LVDS, HD-SDI, HDMI
其他参数
工作温度	+5℃ 到 +35℃
储存温度	-5℃ 到 50℃
电源	115-230VAC 50/60Hz