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UVIR宽波段UV-SWIR成像测试系统

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产品型号

品       牌

厂商性质其他

所  在  地北京市

更新时间:2024-04-16 14:21:13浏览次数:36次

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产品简介

UVIR宽波段UV-SWIR成像测试系统针对宽波段成像系统而开发,实际上是一个可变的靶标成像投影系统,通过用一系列不同的靶标来将它们的图像投射到被测相机接收方向,可测试的相机系统包括:紫外相机、VIS可见光相机、NIR相机、SWIR相机

详细介绍

UVIR宽波段UV-SWIR成像测试系统针对宽波段成像系统而开发,实际上是一个可变的靶标成像投影系统,通过用一系列不同的靶标来将它们的图像投射到被测相机接收方向,可测试的相机系统包括:紫外相机、VIS可见光相机、NIR相机、SWIR相机。

通过分析被测相机生成的图像,观察员或软件算法对图像质量进行评价,测量得出被测相机的重要特征参数,能够测量测量像质参数(分辨率、MRC、MTF)和辐射参数(灵敏度、噪声参数、响应函数)。

UVIR-A 测试系统主要由四个模块组成:CDT 离轴反射式光管, XE150-A 宽波段UV- SWIR 光源, MRW-8电动旋转靶轮,一组靶标,计算机,图像采集卡,TAS-A计算程序。 UVIR-B 在以上基础上升级了光源和计算程序,使用 XE150-B光源和TAS-B计算程序。

产品特征:

•     可在宽波段280nm到1700nm投影参考靶标图像

•     被测相机的光学口径不超过100 mm均可测量 (被测口径可提升)

•     可模拟暗夜和非常亮的白天

•     计算机化测试系统,可半自动测量UV-SWIR成像系统的重要参数(UVIR-B版本)

•     测试性能:

UVIR-A:分辨率,最小可分辨对比度MRC,MTF, 畸变,视场

UVIR-B:分辨率,最小可分辨对比度MRC,MTF, 畸变,视场,灵敏度,信噪比SNR,噪声等效照度,固定图形噪声FPN,不均匀性,响应函数,动态范围,线性度

产品参数

CDT 光管


光管类型

离轴反射式

有效孔径

100   mm (可升级至200mm)

焦距

1000mm   (可调整)

光谱范围

0.28-15   m

空间分辨率

不低于于100 lp/mrad

镀膜

保护铝膜

视场角

2.7°   (可改装)

旋转靶轮


型号

MRW-8

孔位数量

8

控制方式

电动控制,数字式

靶标


直径

54   mm (孔位直径)

标准配置靶标

一组5种对比度USAF靶标,视场/畸变靶标,刀口靶标

选配非标靶标

4杆靶,针孔靶,轮廓靶

光源


有效区域

40   mm

光源型号

氙灯150W

发光光谱

250-1800nm

光谱

典型氙灯光谱

光亮度

高于 7000 cd/m2

光强调节类型

XE150-A: 手动连续调整

XE150-B: 电动连续调整

调节动态范围

XE150-A:   >10 000

XE150-B:   >1 000 0000

是否标定

XE150-A:未标定

XE150-B:已标定,标定单位cd/m2 或W/ m2

计算机


基本信息

主流配置计算机

图像采集卡


可选格式

可从中选择1到2个:模拟视频, CL, GigE, LVDS, HD-SDI, HDMI

其他参数


工作温度

+5℃ 到 +35℃

储存温度

-5℃ 到 50℃

电源

115-230VAC   50/60Hz

 


关键词:图像采集卡

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