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北京费恩科技有限公司
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SPOT测试系统的外形图SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统是扫描式光斑投影系统，它将高亮度的极小光斑投射到被测MWIRFPA表面上，同时测量其输出信号
SPOT测试系统的外形图
SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统是扫描式光斑投影系统，它将高亮度的极小光斑投射到被测MWIR FPA表面上，同时测量其输出信号。它可以直接测量MWIR FPA传感器的空间响应分布函数，也可间接精确测量这些成像传感器的MTF和串扰。
SPOT测试系统的各部件结构如下，包括光斑投影系统和扫描系统。测试原始红外FPA传感器时，SPOT还可以配置与FPA相匹配的高动态范围电路。
SPOT测试系统的原理图
设备特性：
测量FPA单个像元输出的信号，通过反卷积来计算结果
计算MTF和串扰
软件提供调焦功能
产品参数
参数 | 描述 |
被测传感器 | |
传感器类型 | 制冷式 MWIR FPAs 响应范围 1 um 到 5.5 um |
可供选择的被测传感器 | SWIR FPAs, VIS-NIR FPAs, UV FPAs |
像元尺寸 | 典型尺寸 > 8um 可选 < 8 um |
FPA 分辨率 | SXGA 格式 1280 x 1024 |
响应率 | >0.1 A/W |
配件 | 需提供读取设备和杜瓦瓶 |
光斑投影系统 | |
功率 | 4 mW |
光斑直径 | 在70% 能量时< 6 um |
功率调节范围 | 大于100 |
光学部件 | 近似，达到衍射极限 |
控制方式 | USB接口，PC控制 |
扫描系统 | |
XY扫描范围 | 不小于 10x10 mm |
扫描分辨率 | 粗略移动 – 2.5 um; 精准移动 - 0.5 um |
调焦范围 | 18 mm |
调焦分辨率 | 0.5 um |
控制方式 | USB接口，PC控制 |
环境要求 | |
工作温度 | +5ºC 到35ºC |
储藏温度 | -5ºC 到55ºC |
工作湿度 | 不超过85% |
储藏湿度 | 不超过90% |
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