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SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统

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SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统
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更新时间：2024-04-16 14:27:09浏览次数：80次

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产品简介

产品介绍：SIT测试系统是两个主要模块的总和：波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统（PC、图像采集卡、软件）

详细介绍

  • 产品介绍：


SIT测试系统是两个主要模块的总和：波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统（PC、图像采集卡、软件）。被测探测器位于SITO光源的输出端，传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射，被测探测器生产标准格式的图像，通过IPS系统采集并分析图像，确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。

  • 产品参数：

  • 一般参数


    工作温度范围

    +5ºC到+35ºC

    储存温度范围

    -5ºC 到+55ºC

    湿度范围

    90%（无冷凝）

    重量

    58kg

    尺寸

    173 x 43 x 28 cm

关键词：图像处理 图像采集卡 探测器

或

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