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深圳市研盟科技有限公司
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以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验
技术参数:
超高分辨极靴 | 高分辨极靴 | |
分辨率 | ||
TEM点分辨率 | 0.19 nm | 0.23 nm |
STEM-HAADF 像 | 0.14 nm @冷场枪 | 0.16 nm @冷场枪 |
0.16 nm @热场枪 | 0.19 nm @热场枪 | |
加速电压 | 200 , 80 kV | 200 , 80 kV |
主要选配件 | 能谱仪(EDS)、电子能量损失谱仪(EELS)、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统 |
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