超高性能影像测量仪EV2515 EV3020 EV4030
EV 系列光学影像测量仪
采用本公司开发的精密多段倍率,超低变形,远心光学设计的变焦镜头,配上本公司专为光学测量而设计的 DSP CCD 彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清淅细致地显现,轮廓层次分 明,精确无误地放大 20~125 倍作精密测量。
EV 系列光学影像测量仪
以高精度的大理石作机身的支架,配上高精度工作台,X/Y/Z 三轴均装有分辨率为 0.001mm 的精确的光学尺测量系统,X/Y/Z 轴的量测精度高达(3+L/200)um。
Renishaw 高精度接触式测头 可选配件]
EV 系列光学影像测量仪
均可选配英国 Renishaw 的高精度接触式测头,作 2D/3D 复合测量,使 EV 系列光学影像测量仪变成一台具三座标测量功能的简单三座标测量机。
本公司的测量软件提供多种的三座标测量功能,包括Z轴高度、圆球、斜面、圆柱、圆锥等等。使
用测头的三维测量可与两维的影像测量混合使用,采用相同的座标系统,使影像的两维平面测量与三维的立体测量*、轻松的结合。
型号 | EV-2515 | EV-3020 | EV-4030 |
(x/y/z) 量测行程 | 250*150*150mm | 300*200*200mm | 400*300*250mm |
外型尺寸(长宽高) | 100*60*140cm | 120*72*160cm | 120*72*160cm |
机身重量 | 170kg | 280kg | 410kg |
重复性 | 2um | ||
机台承重量 | 30kg | ||
操作方式 | 手动 | ||
测量分辨率 | 0.001mm | ||
x/y/z轴测量精度 | (3+l/200)um | ||
光源系统 | 全电脑程控,USB控制四路上光源,直轴可调下光源 | ||
平台结构 | 00级花岗石机台及立柱 | ||
精密测头(选配) | 英国Renishaw高精度接触式精密测头 | ||
镜头 | 超底变形,多段倍率远心光学设计镜头(ecetric lens) | ||
放大倍率 | 光学放大倍率0.7-4.5x,影像放大倍率20x-125x | ||
标准电脑配置 | C4/2.4G/256M内存/40G硬盘17"寸CRT显示器 | ||
影像系统 | Easson高度析度CCD影像头(1/2"SONY CCD Sensor)及支DSP |