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CH-1-S测厚仪（薄膜*）电话：13482126778CH-1-S测厚仪（薄膜）电话：

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公司名称：
更新时间：
所在地：
生产地址：
浏览次数：

上海隆拓仪器设备有限公司
2016-08-15 21:35:07
上海市
凌高路149号
927

具体成交价以合同协议为准

【简单介绍】

CH-1-S薄膜测厚仪，薄膜测厚仪，测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

【详细说明】

CH-1-S薄膜测厚仪，薄膜测厚仪，测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上测头曲率半径:15-50mm
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎执行标准:GB6672-86
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）.


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