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杭州翊明科技有限公司
SPM-8000科研级快速光谱仪采样科学级CCD探测器和低杂散光光学分光平台以及新的电子电路技术,极大地提高了光谱响应能力和光学分辨率,为科学研究和高精度测量提供了强有力的手段
SPM-8000科研级快速光谱仪采样科学级CCD探测器和低杂散光光学分光平台以及新的电子电路技术,极大地提高了光谱响应能力和光学分辨率,为科学研究和高精度测量提供了强有力的手段。SPM-8000在紫外和近红外具有的响应度,广泛应用与照明行业的全光谱测试。
▲满足IESNA LM-79和GB/T 24824标准要求。
▲ 测试结果溯源至中国国家(NIM)。
▲ 制冷背投式CCD,灵敏度高、动态范围宽。
▲ 用户可自行进行系统校准和验证,无需将系统返厂校正。
▲ 快速采集数据,实时显示。
▲ 多图形显示参数,直观便于理解。
主要技术参数:
* 日本滨松高灵敏度背照式制冷型CCD探测器
* 波长范围: 200nm~1100nm可定制
* 杂散光:小于0.01%
* 光度线性度:小于0.2%
* 积分时间:5ms~15min
* 信号动态比:25000:1
* 光谱波长精度:±0.2nm,分辨率:±0.2nm
* 色品坐标精度:±0.0003 (标准A光源)
典型应用
* 积分球光色电综合测试系统
* 植物照明光通光子测量
* 紫外光源测试
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