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X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积
的检测需求
X-Strata980(X荧光镀层测厚及元素分析仪)简介:
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积
的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率*,
能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,
帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择zui合适的分析模型:经验系
数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别
出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱
门使样品更易放入。
X-Strata980(X荧光镀层测厚及元素分析仪)应用:
--RoHS/WEEE
--有害元素痕量分析
--焊料合金成分分析和镀层厚度测量
--电子产品中金和钯镀层的厚度测量
--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
--贵金属合金分析和牌号鉴定
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