美国Angstrom椭圆仪厚度测量仪分光光度计 返回列表页

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Angstrom Advanced Inc.为学术和工业领域设计，制造和提供各种科学仪器以及氢气和氮气设备。Angstrom Advanced现在提供了多个产品系列，包括 X射线衍射仪，实验室气体发生器， 原子力显微镜/扫描电子显微镜， 重金属分析仪， 拉曼光谱仪， 电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES）， 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）， ICP质谱仪（ICP-MS）， 气相色谱法， GC-MS， 高效液相色谱法（HPLC）， 粒度分析仪等。

椭圆偏振显微分光光度计MSP集合椭圆偏振光谱仪和显微光度计功能,适合250-1000nm薄膜膜厚测量,可测量极小斑点的薄膜厚度和折射率,非常适合用于MEMS，半导体晶圆等领域。
椭圆偏振显微分光光度计SE-MSP测量功能比传统椭偏仪*加宽广,在反射光谱模式下工作，并在垂直入射角下运行这套薄膜测量仪。