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德恩斯仪器科技(无锡)有限公司
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产品简介:X荧光光谱仪(真空型)配置真空测试系统以及SDD(硅漂移)探测器,元素测试范围广、检出限低、数据稳定性好。广泛应用于电子、电器、塑胶塑料、五金、玩具、包装印刷以及产品等公司内部进行质量把控。适用于ROHS检测、卤素测试、玩具重金属检测和合金元素分析等各领域使用。探测器美国Amptek SDD探测器,高速脉冲分析系统
X荧光光谱仪(真空型)配置真空测试系统以及SDD(硅漂移)探测器,元素测试范围广、检出限低、数据稳定性好。
广泛应用于电子、电器、塑胶塑料、五金、玩具、包装印刷以及产品等公司内部进行质量把控。
适用于ROHS检测、卤素测试、玩具重金属检测和合金元素分析等各领域使用。
探测器 | 美国Amptek SDD探测器,高速脉冲分析系统 |
高压电源 | 美国Spellman (50kv/MA) |
X射线管 | 新型X光管 |
能量分辨率 | 140±5ev |
元素分析范围 | 钠(Na)到铀(U) |
分析含量 | 1ppm到99.99% |
测量时间 | 60—300s |
交流220v供电设备 | 1KVA交流净化稳压电源 |
工作温度 | 10-30°C |
测量条件 | 大气环境 |
合金(如不锈钢、铜合金、铝合金等合金)所含元素含量分析(如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素)。
不锈钢元素含量分析
铜合金元素含量分析
铝合金元素含量分析
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