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上海旭为光电科技有限公司
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以色列Duma公司成立于1989年，是一家主要致力于光电子检测仪器市场的创新性产品开发公司。其开发的光束位置测量系统(Optical beam positioning)和光束准直系统(AngleMeter和AlignMeter)的产品在具有的度。目前Duma产品主要有以下几个模块：光束位置测试系统；光束准直测试系统；光束质量分析系统；多通道光功率计。
| 产品型号 | 探测面积 Mm | 光谱范围 Nm | 动态范围 | 快门速度 s | 帧频 Hz | 增益 dB | 灵敏度 | 饱和密度 mW/cm2 | 损伤阈值 W/cm2 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BeamOn | 6.47x 4.83 | UV: 190-1100 VIS: 350-1100 IR1310: 350-1310 IR1550: 1550+/-50 | ≤10e11 | 1/50-1/100000 | 25 | 6-60 | 0.5nW/cm2@633nm 1.5µW/cm2@1310nm 5µW/cm2@1550nm | 1 (VIS/UV) 5 (IR1550) | 50 |
| BeamOn HR | 6.47X4.83 | VIS: 350 – 1310 IR: 1550±50 | 60dB | 0.6s-1µs | 15 | 1-23 | 5nW/cm2@633nm 60µW/mm2@1310nm 22µW/mm2@1550nm | 2(VIS) 10(IR) | 50 |
| BeamOn2/3 | 8.5X6.35 | 350 – 1100nm | 60dB | 1/50-1/100000 | 25 | 6.0-14.4 | 40nW/cm2@633nm | 0.1 | 50 |
| BeamOn U3 | 11.34 x 7.13 | 350 - 1600 | 60dB | 39μs - 20s | 150 | 0-24 | 20 µW/mm2@633nm 2 W/mm2@1550nm | 1 | 50 |
| BeamOn 2 | Best system for high resolution laser beam measurement, especially for focused beams. | ||||||||
| BeamOn X | A cost-effective Beam profiler based on global shutter technology, combined with 1/1.8" detection area, and user-friendly sofTWare. | ||||||||
| BeamOn WSR | Wide Spectral range 190nm to 1600nm CCD Beam Profiler | ||||||||
| BeamOn LB | Beam Profiling from remote. | ||||||||
| BeamOn LA | The BeamOn LA system is a beam diagnostics measurement system for real-time measurement of CW or Pulsed laser beams. | ||||||||
Duma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。
提供了两种技术的光束质量分析仪：CCD式（BeamOn系列）和刀口式（Beam Analyzer系列）。
高分辨率：
高分辨率激光光束质量分析仪（1.4M像素）带有电动光学滤波轮组（软件或者ActiveX控制）。具有12位的动态范围，能对连续光和脉冲光的形状，位置，功率等光束特性进行测量。USB2.0接口，Duma可提供一系列的测量配件，集成的电动滤波轮和三片衰减片，通过滤波轮软件自动调节，可测量从nW到1W不同强度的激光。
技术：
Duma的CCD光束质量分析仪是一种既可以测量连续光也可以测量脉冲光的光束质量诊断设备。具备光束宽度，光束形状，位置，功率，强度分布等多种参数测试能力。使用USB2.0数据且可以用软件控制。通多控制衰减片的倍数多次测量，可以突破动态范围的限制来精确测量大的动态范围的激光束。这种技术可以测量相对于点1%的功率动态范围分布，这种技术可测量功率密度点到最弱点。
亚微米：
亚微米级别光束质量分析仪为亚微米级别光斑提供了光束分析和图形处理功能。主要应用于CD唱头，激光二极管，唱头透镜和光学元件调整，小直径光束，以及任何需要光束测量的系统。
的，的技术在不同的交叉角和不同的交叉面对光束空间强度进行断层重建从而测量光束质量。提供了高分辨率光束直径和剖面测量，并能够显示光束功率分布的二维和三维视图。
优点：
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