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ZCR-Ⅰ/Ⅱ差热实验装置

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更新时间：2024-07-04 15:52:53浏览次数：134次

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产品简介

本装置采用单片机智能程序控温。测量参比物和物质在物理或化学作用下所产生的热效应（吸热或放热）以及相对温度变化。

详细介绍

装置组成及特点：

*ZCR差热实验仪

*差热实验炉

1、温度范围：室温～1100℃

2、温度分辨率：0.1℃

3、控温速率：1～20℃/min

4、程序方式：微型处理器程序控制PID

5、DTA分辨率：1uV

6、DTA量程：0～2000uV（不分档）

7、DSC方式数据采集分析（I型）

8、DSC范围（I型）：1mW～±100mW

9、DSC解析度（I型）：10uW

10、输出方式：计算机、打印机系统

11、自带降温功能

注：气氛装置（选配）

关键词：处理器 PID 数据采集打印机

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