本产品符合GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150 等国家标准。
GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法
GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法
高低温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,湿度冲击试验箱(各参数可按需定制)一、用途
用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.
高低温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,湿度冲击试验箱二、主要技术指标
1.1、工作室尺寸:50/80/150/225/408/800/1000L或按需定制
1.2、温度范围: 高温箱+60℃~200℃
低温箱-40~-10℃
1.3、温度波动度:±0.5℃
1.4、温度误差:≤±3℃
1.5、升温速率:30℃~+150℃ ≤30min
1.6、降温速率:+30℃~-55℃ ≤75min
以上指标均在常压、空载条件情况下测试。
1.7、样品转换时间:≯15s
1.8、温度恢复时间.
1.8.1、+150℃~-40℃温度冲击恢复时间,≤5min
试验状态:预冷温度:-55℃
1.8.2、-40℃~+150℃温度冲击恢复时间,≤5min
试验状态:预热温度:180℃
高低温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,湿度冲击试验箱三、符合标准:
本产品符合GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150 等国家标准。
GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法
GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法