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西安智盈电气科技有限公司
功率半导体标准动态特性测试系统主要完成功率器件的开通特性、关断特性以及极限关断特性参数的测试。
功率半导体标准动态特性测试系统
功率半导体标准动态特性主要完成功率器件的开通特性、关断特性以及极限关断特性参数的测试。
本技术规格书ZY-Eon适用于IGCT功率半导体标准动态特性测试台(下面简称测试台),规定了测试台的主要技术要求,参数范围,操作流程,试验方法及检验规则等。
本技术规范并未对一切技术细节做出规定,所提供的货物应符合工业标准和本技术规范中所提要求。
1. 引用标准[滨1]
GB/T 15291-2015 半导体器件 第6部分:晶闸管
JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法
JB/T 7626-2013 反向阻断三极晶闸管测试方法
以及国标、IEC、IEEE相关标准,以上标准均执行新版本。如本技术规范与上述各标准之间有矛盾,则应满足较高标准。
2. 技术要求 功率半导体标准动态特性测试系统
序号 | 项目 | 参数 | 备注 | |
1 | 常规开通 | 通态电流 | 范围:200-10000A,连续可调; | |
主电容电压 | 范围:300-7000V,连续可调; | |||
导通电流宽度设定范围 | 10μs-5ms | |||
上升时间测量范围 | 0.01-20μs±3%±0.05μs | |||
开通反馈延迟时间测量范围 | 0.01-20μs±3%±0.05μs | |||
开通延迟时间测量范围 | 0.01-20μs±3%±0.05μs | |||
开通能量测量范围 | 0.01-200J±3%±0.1J | |||
开通di/dt测量范围 | 10-5000A/μs±3%±10A/μs | |||
2 | 常规关断 | 关断电流 | 范围:200-10000A,连续可调; | |
关断反馈延迟时间测量范围 | 0.01-20μs±3%±0.05μs | |||
关断延迟时间测量范围 | 0.01-40μs±3%±0.05μs | |||
关断能量测量范围 | 0.01-1000J±3%±0.1J | |||
断态电压上升率测量范围 | 10-5000V/μs±3%±10V/μs | |||
断态电流下降率测量范围 | 10-10000A/μs±3%±10A/μs | |||
*主回路寄生电感 | ≤300nH | |||
3 | 极限关断 | 关断电流 | 范围:<20000A; | 设备能力 |
4 | 数据采集和处理单元 | 示波器 | 带宽不低于500MHz,采样率不低于6.5Gs/s | |
试品控制方式 | 光纤控制 |
2.1. 自动恒温压力夹具
序号 | 项目 | 参数 | 备注 |
1 | 工作方式 | 自动,气动 | |
2 | 压力范围 | 10~130KN;分辨率0.1 KN,精度±5%±1KN。 | |
3 | 温度控制范围 | 70~180℃,分辨率0.1℃; | 高压阳极控温器采用非接触式测温 |
(重庆科研院所检测)
[滨1]梳理本技术规格书引用到的标准
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