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可控硅动态关断时间测试设备

参考价: ￥ 10000

订货量: ≥1 套

具体成交价以合同协议为准

产品型号ZY-Drr

品牌其他品牌

厂商性质生产商

所在地西安市

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更新时间：2025-05-23 11:36:04浏览次数：60次

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西安智盈电气科技有限公司

经营模式：生产厂家

商铺产品：30条

所在地区：陕西西安市

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产品简介

可控硅动态关断时间测试设备主要完成功率器件的开通特性、关断特性以及极限关断特性参数的测试。

详细介绍

可控硅动态关断时间测试设备主要完成功率器件的开通特性、关断特性以及极限关断特性参数的测试。

本技术规格书ZY-Eon适用于IGCT功率半导体标准动态特性测试台（下面简称测试台），规定了测试台的主要技术要求，参数范围，操作流程，试验方法及检验规则等。

本技术规范并未对一切技术细节做出规定，所提供的货物应符合工业标准和本技术规范中所提要求。

1. 引用标准[滨1]

GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分：晶闸管

JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法

JB/T 7626-2013 反向阻断三极晶闸管测试方法

以及国标、IEC、IEEE相关标准，以上标准均执行新版本。如本技术规范与上述各标准之间有矛盾，则应满足较高标准。

2. 技术要求

2.1. 自动恒温压力夹具