台式硅酸根分析仪/数显硅酸根分析仪/二氧化硅分析仪/硅表/光电比色硅酸根分析仪/硅酸根比色计/实验室硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215C

技术参数测量范围 0~199.9μg/LSiO2基本误差≤±2.5%FS重复性误差≤±0.5%FS短期漂移（30分钟） ： ≤±0.5%FS长期漂移(24小时） ： ≤±2.5%FS化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89

台式硅酸根分析仪/数显硅酸根分析仪/二氧化硅分析仪/硅表/光电比色硅酸根分析仪/硅酸根比色计/实验室硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215C

技术参数测量范围 0~199.9μg/LSiO2基本误差≤±2.5%FS重复性误差≤±0.5%FS短期漂移（30分钟） ： ≤±0.5%FS长期漂移(24小时） ： ≤±2.5%FS化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89

台式硅酸根分析仪/数显硅酸根分析仪/二氧化硅分析仪/硅表/光电比色硅酸根分析仪/硅酸根比色计/实验室硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215C

技术参数测量范围 0~199.9μg/LSiO2基本误差≤±2.5%FS重复性误差≤±0.5%FS短期漂移（30分钟） ： ≤±0.5%FS长期漂移(24小时） ： ≤±2.5%FS化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89