多功能激光椭圆偏振仪型号:ZXWJZ-II库号：M351615  

实验内容:  

●测量薄膜厚度。  

●测量介质折射率。  

●验证马吕斯定律。  

●观察了解光的偏振现象。  

仪器特点:  

●以分光计为平台，测量薄膜厚度。  

●利用软件进行数据处理。  

设备成套性:  

●半导体激光器、数字检流计、光电探头、  

待测样品、起偏器、检偏器、分光计  

(选配)等。  

主要技术指标:  

测量透明薄膜厚度范围0-300nm,  

折射率1.30-2.49。  

起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0*-360°，  

游标读数0.10。  

测量:+2nm。  

入射角ψ1=70°，K9玻璃折射率n=1.515。  

消光系数:0,空气折射率1。  

●半导体激光器波长λ=635nm。  

多功能激光椭圆偏振仪型号:ZXWJZ-II库号：M351615  

实验内容:  

●测量薄膜厚度。  

●测量介质折射率。  

●验证马吕斯定律。  

●观察了解光的偏振现象。  

仪器特点:  

●以分光计为平台，测量薄膜厚度。  

●利用软件进行数据处理。  

设备成套性:  

●半导体激光器、数字检流计、光电探头、  

待测样品、起偏器、检偏器、分光计  

(选配)等。  

主要技术指标:  

测量透明薄膜厚度范围0-300nm,  

折射率1.30-2.49。  

起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0*-360°，  

游标读数0.10。  

测量:+2nm。  

入射角ψ1=70°，K9玻璃折射率n=1.515。  

消光系数:0,空气折射率1。  

●半导体激光器波长λ=635nm。