氧化膜测厚仪 北京主要功能  
可进行零点校准及二点校准。  
可对测头进行基本校准。  
氧化膜测厚仪 北京设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。  
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。  
自动关机功能。  
删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。  
操作过程有蜂鸣声提示。  
有欠压指示功能。  
有错误提示功能。  
氧化膜测厚仪主要技术指标  
测量原理：涡流法  
测量范围：1～1250μm  
测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）  
±[（1～3）%H+1.5]μm（二点校准）

主要功能  
可进行零点校准及二点校准。  
可对测头进行基本校准。  
设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。  
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。  
自动关机功能。  
删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。  
操作过程有蜂鸣声提示。  
有欠压指示功能。  
有错误提示功能。  
氧化膜测厚仪主要技术指标  
测量原理：涡流法  
测量范围：1～1250μm  
测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）  
±[（1～3）%H+1.5]μm（二点校准）