光纤光学与半导体激光器的电光特性测量仪 北京实验内容：  
光纤的切割与端面的处理。  
激光与光纤的耦合及耦合效率的测量。  
半导体激光器的阈值电流和增益斜率。  
观察光纤的模式及偏振态、光纤弯曲对模式的影响（扰模）。  
光纤中的光速测定和光纤材料的平均折射率的估算。  
模拟信号（音频）的调制、发射、光纤传输、接收放大和解调（光纤通讯原理）。  
光纤数值孔径的测量。  
振动信号的拾取。  
光纤光学与半导体激光器的电光特性测量仪 北京技术指标：  
光学实验导轨：800mm，  
半导体激光器：650nm、10mW，  
光纤纤芯直径：9.2um，长200m，，  
二维可调光电二级管探头调制范围：X、Y方向各±2.5mm，激光功率指示计（普通探头）三位半数字表头，量程：200μW,2mW,20mW,200mW，可调档，zui小分辨率0.1uW。  
选购件：大一维位移架+12档光探头（用于数值孔径的测量）位移范围100mm，精度0.02mm，光栏直径：0.5、1、2、3、4、6mm。光栏宽度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm  
特点  
用可调制的可见光半导体激光器作为光源，现象清晰、直观；波长为650nm输出功率≥10mW，功率稳定度：≤±1%；调制频率范围为10K—200KHz；激光功率指示计采用3位半数字表头，量程分别为200μW、2mW、20mW、200mW和可调档；光纤长度200m。  
采用多自由度的调整机构，耦合光纤，培养动手能力。