上海九礼川贸易有限公司

当前位置:首页   >>   资料下载   >>   STI-CURVE TRACE

STI-CURVE TRACE

时间:2011/10/20阅读:2119
分享:
  • 提供商

    上海九礼川贸易有限公司
  • 资料大小

    277.5KB
  • 资料图片

    查看
  • 下载次数

    435次
  • 资料类型

    PDF 文件
  • 浏览次数

    2119次
点击免费下载该资料

STI-CURVE TRACE软件配合ST5300测试主机使用,可自动生成功率器件的I-V曲线。在失效分析中有广泛的应用。

标准特性曲线:
Mosfet (N-Channel & P-Channel)
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS
Transistor (NPN & PNP)
HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT) vs. IB at a range of IC
VF vs. IF

会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

X
该信息已收藏!
标签:
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,智能制造网对此不承担任何保证责任。

温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

拨打电话
在线留言