2011年8月15日上午10点，美国STI CEO John Bailey光临在上海紫金山大酒店举办的STI上海技术研讨会。并与现场的各大半导体厂家的工程师们现场沟通。

   同时与会的代表有STI销售代表Jack SHI, 美国Diodes 技术部总监  Robin Sun,长电测试部 Hongjun Liu;美国Microsemi 技术部高工 Mr.Cai以及其他各大半导体公司的工程师们。

   研讨会主要围绕ST5000系列测试机在功率器件方面的应用展开讨论。

1.CURVE TRACE在功率器件失效分析中的应用；

2.ST5000E在CP中的应用演示；

3.ST5000E在FT中的应用演示；

4.ST5000E在IQC部门做来料检测的应用；