ST5000E测试系统是一项高速多用途半导体分立器件智能测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。STI产品使用比较方便，只需要通过USB或者232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL的格式保存，特性曲线保存相当方便。如图所示，

测试范围：

技术参数及可实现目标

 套件：
      测试阵列器件，Multiple及达林顿阵列的扫描器(1200V,30A)，遥控器,光电器件适配器,继电器适配器,
      各种测试夹具: TO-220/218,TO-3/66,TO-5/18/72/92,TO-247, SOT-23/25/26/223, D-PAK,SMA/B/C,,空白插座等等

1.MOSFET测试项目:IDSS/V,IFSSF,IGSSR,BVDSS,VGSTH,
  GFS,VDSON,VSD,RDSON,IDON,VGSON

2.IGBT 测试项目:ICES,IGESF,IGESR,BVCES,VGETH,GFE
  VCESAT,ICON,RDSON,VGEON,VF
 

3.普通晶体管测试项目: IEBO,ICBO,ICEO/R/S/V,BVCBO,
  BVEBO,BVCEO,VCESUS,hFE,VCESAT,VBESAT,VBEON
 

4.可控硅SCR测试项目:IDRM, IRRM, IGKO,VDRM, VRRM,
    BVGKO, VTM, IGT, VGT, IL, IH

CURVE TRACER:

           主要型号：

ST1005E         1000V 50A;

ST2005E         2000V 50A;

ST2010E        2000V 100A;