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上海自动化仪表有限公司
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产品简介
非接触式与连续测量的脉冲型物位计Z大测量距离70m
特性与优势：
●无盲区，高精度
●两线制或四线制技术，是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。
●不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响
●安装简便，牢固耐用，免维护
产品介绍
雷达物位计
产品简介
非接触式与连续测量的脉冲型物位计zui大测量距离70m
特性与优势：
●无盲区，高精度
●两线制或四线制技术，是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。
●不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响
●安装简便，牢固耐用，免维护
●HART或PROFIBUS-PA通信协议及基金会现场总线协议，标定简便、通过数字液晶显示轻松实现现场标定操作，通过软件实现简单的组态设定和编程
●测量灵敏，刷新速度快。
●适用于高温工况，高达200℃过程温度，当采用高温延长天线时可达350℃
测量原理
雷达料位计天线发出微波脉冲，在被测物料表面产生反射，并被雷达系统所接收。
输入
天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比：
D＝C×T／2
其中C为光速
因空罐的距离E已知，则物位L为：
L＝E-D
输出
通过输入空罐高度E（＝零点），满罐高度F（＝满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4−20mA输出。
测量盲区
盲区（BD）是从测量参考点到zui高物位时的介质表面的zui小距离。即从法兰开始到天线／喇叭长度参见尺寸图）
测量条件／注意事项
●测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。
●若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。
●理论上测量达到天线*的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的*至少50mm.
●对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。
●zui小测量范围与天线有关。
●随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。
●当测量范围超出时，仪表输出为22mA电流。
电气连接
两线制
HART通信的zui小负载：250Ω
电缆入口：M20×1.5
内设极性反接，射频干扰，及尖峰过压的保护电路。
调试
可以通过三种方式调试：通过显示调整模块、通过调试软件、通过HART手持编程器。
现场现场编程模块（GPM）
GPM编程器由6个按键和一个液晶显示屏，可以显示调整菜单和参数设置。其功能相当于一个分析处理仪表。
通过软件调试
无论那种信号输出，4…20mA／HART，Profibus PA，雷达传感器都可以通过软件进行调试。采用软件进行调试，需要一个仪表驱动器。软件和驱动器可以作为附件订购。
使用软件调试的时候，给雷达仪表加电24VDC，同时在连接HART适配器前端加一个250欧姆的电阻。如果一体式HART电阻（内部电阻250欧姆）的供电仪表，就不需要附加外部电阻，这时候HART适配器可以和4…20mA线并联。
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