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产品简介
RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
产品介绍
四探针测试仪（手动带软件） 仪表
四探针测试仪（手动带软件） 仪表
标准使用环境
温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
无强光直射；<a
四探针测试仪主机一台四探针测试台一台四探针探头一个测试软件（含测控模块）
温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
无强光直射；<a
四探针测试仪主机一台四探针测试台一台四探针探头一个测试软件（含测控模块）
温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
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四探针测试仪主机一台四探针测试台一台四探针探头一个测试软件（含测控模块）
温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
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四探针测试仪主机一台四探针测试台一台四探针探头一个测试软件（含测控模块）
温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
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四探针测试仪主机一台四探针测试台一台四探针探头一个测试软件（含测控模块）
温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
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四探针测试仪主机一台四探针测试台一台四探针探头一个测试软件（含测控模块）
温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
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四探针测试仪主机一台四探针测试台一台四探针探头一个测试软件（含测控模块）
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