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上光六厂光切法显微镜9J

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更新时间：2024-12-03 09:51:26浏览次数：48次

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上海兰科仪器有限公司

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产品简介

显微镜特点：显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度

详细介绍

显微镜特点：
显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度。其能判国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度。（表面粗糙度12.5-0.2）对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。

技术参数：
1.本仪器在原有的基础上进行了光学系统升级，明场成像更清晰，避免看不清测量读数刻线。
2.配备粗微动同轴调焦系统，粗动松紧可调，微动格值:2μm，使之更加准确的找到成像面。
3.一体化结构机身，无需另配变压电源，操作简洁、方便。
4. 非接触式测量，不会破坏样品表面层，经过计算后确定纹痕的不平度。

类型	9J
测量范围不平度平均高度值（微米）	>0.8-1.6	>1.6-6.3	>6.3-20	>20-80
表面光洁度（级别）	9	8~7	6~5	4~3
所需物镜	60X/0.55	30X/0.40	14 X/0.20	7X/0.12
总放大倍数	510X	260X	120X	60X
物镜组件工作距离（mm）	0．04	0．2	2．5	9．5
视场（mm）	0.3	0.6	1.3	2.5
摄影装置放大倍数	约6倍
测量不平度范围	（0.8-80）微米
不平宽度	用测微目镜：0.7微米-2.5毫米
不平宽度	用座标工作台：（0.01-13）毫米
仪器重量约	23公斤
外形尺寸（mm）	约180290470毫米