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广州晟龙实验仪器有限公司


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XD-2/XD-3系列多晶X射线衍射仪

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更新时间:2018-05-15 13:32:42浏览次数:1320次

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经营模式:经销商

商铺产品:11条

所在地区:广东

联系人:李长辉 (经理)

产品简介

XD-2/XD-3系列多晶X射线衍射仪

详细介绍

多元素同时分析
 一次可同时分析近30种元素。
  
检出限低
 zui低检出限:pg级(10-12g);
zui低相对检出限:ng/mL级(10-9)。
  
测量元素范围广
 可以从11号元素Na到92号元素U。
  
样品用量少
 μL、μg级。
  
粉末样品、悬浮液样品、有平面的固体都可直接进行分析,zui低检出限达到ng/g量级。
可以进行无损分析,
 也可进行无标样分析。
  
输入功率小于500W。
测量时间短
 一般在100秒-1000秒。
  
自动化程度高,操作方便。
 全反射X射线荧光分析仪

    全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术,使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪(EXRF)本底降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏度,避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应;同时TXRF技术又继承了EXRF方法的优越性,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。该技术被誉为在分析领域是有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于地位。

    在X荧光谱仪范围内,与波长色散谱仪(RF)方法比较,由于TXRF分析技术用样量很少,也不需要制作样品的烦琐过程,又没有本底增强或减弱效应,不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法,对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面,都比RF方法有明显的优越性。

    TXRF技术可以对从氧到铀的所有元素进行分析,一次可以对近30种元素进行同时分析,这是原子吸收谱仪中的ETAAS和FAAS方法难以做到的。与质谱仪中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析(NAA)等方法相比较,TXRF分析方法在快速、简便、经济、多元素同时分析、用样量少、检出限低、定量性好等方面有着综合优势。

    我们开发的TXRF分析技术于1995年通过了省部级专家鉴定,认定“其主要技术指标处于国内,达到了*水平"。


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