双色红外测温仪 库存 库号：M209064                 双色红外测温仪 库存 库号：M209064

可用现场有烟雾、颗粒物、蒸汽、视场部分遮 挡，以及高速移动目标物体的温度测量 温度测量范围600 3000 - ℃

响应速度小于10ms

30 DIT DIKAI V2 6

单色，双色测量模式供选择 同时模拟和数字输出 可编程继电器输出 支持多达 台 系列测温仪的多点网络 . 数据采集软件及现场校准软件

比色测温仪： 采用双色测温方法，即通过目标 物体辐射的两个红外波段的能量比值来确定被测物体的 温度。因测量结果取决于两个波段辐射功率之比，所 以，辐射能量的部分损失对测量结果没有影响。可克服 传输介质有灰尘、烟雾、水汽，视场局部遮挡和测量距 离变化造成的辐射能量衰减而引起的测量误差，特别适 用于相对恶劣的测温环境。

金属热加工过程中，金属表面不可避免会快速氧化 形成氧化层，氧化层会随温度变化脱落或者皴裂（例如 轧钢线），皴裂氧化皮和金属本体形成间隙，使得 氧化层的温度低于金属本体温度。比色测温仪可以很好 的克服因此引起的测量误差。使得工艺数据且 离散性小，便于工艺分析。

比色测温对于真空或保护气体加热系统也具有较强 的，可以克服玻璃窗口材料引起的测量误差，让测 量值接近真值。

比色测温仪具有目视瞄准系统，非常方便用户 安装及实时查看测温仪是否对准目标。对于密封环境的 测量系统，目视瞄准还可以作为炉内工况的观察窗口。

比色测温仪具有丰富的功能，实时高亮温度测 量值显示，用户可选测量方式，测量模式，测温速度， 输出规格设置。满足客户各种现场使用需求。人机 交互简单，方便。

单色温度计在使用过程中，会遇到以下几种原因引 起的测量误差： 、材料氧化表面状态发生改变，或者 氧化物和原始材料开裂而引起较大的测量误差。 、材 料本身发射率较低而引起的测量误差。 、测量环境恶 劣（粉尘，烟雾，水蒸气等）而引起的测量误差。 、 测量孔径不能满足测温仪的视场需求而引起的测量 误差。

量程范围

DITH1 600-1400℃

DITH2 800-1800℃

DITH3 1000-3000℃ 探测器 Si0.4-1.1µm/Si 0.8-1.1µm

测量精度 ±0.75%(FS) 测量精度 0.2% ±

温度分辨力1℃

响应时间 5ms ≤

发射率调整 0.80 to 1.10 (0.01) tow-color 0.10 to 1.00(0.01) one-color

现场参数

280:1 2mm@560mmDITH1,DITH2,DITH3

防护等级 IP65

工作温度 0 to 65℃ 存储温度 -20-70℃ 相对湿度

抗冲击 GB/T2423.1,GB/t2423.2 抗扰标准 JB/T9233.11-1999

重量 600g