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深圳硒控检测设备有限公司
按键寿命试验机,开关寿命测试仪可测手机、PDA、机、电脑键盘、电子字典之按键及锅仔片、麦拉片、微型开关等按钮、开关之耐久寿命试验。可同时工作、单独工作、测试数个产品(每个产品均可多点测试),按键可以选择不同荷重。
开关寿命测试仪
硒控按键寿命试验机,开关寿命测试仪可测手机、PDA、机、电脑键盘、电子字典之按键及锅仔片、麦拉片、微型开关等按钮、开关之耐久寿命试验。可同时工作、单独工作、测试数个产品(每个产品均可多点测试),按键可以选择不同荷重。
技术参数
1、规格:三工位(或订做五工位);
2、速度测试范围:15-100次/分钟 速度可调试;
3、测试受台zui大承受力10KG;
4、测试头荷重:50G、100G、200G(共三套砝码);
5、受台上下行程120mm;
6、测试台置物有效尺寸:120 x 200mm
7、冲击运动方式:采用电机凸轮驱动,上下采用直线轴承运动、定位精准、无框动;
8、计数仪表采用可调7位数,0-999999次;
9、电压:220V
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