TT230 本仪器是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
主要功能
　　 可进行零点校准及二点校准。
　　 可对测头进行基本校准。
　　 设有五个统计量：平均值（ MEAN ）、zui大值（ MAX ）、zui小值（ MIN ）、测试次数（ NO ）、标准偏差（ S.DEV ）。可存贮和统计计算 15 个测量值。
　　 具有两种测量方式：连续测量方式（ CONTINUE ）和单次测量方式（ SINGLE ）。
　　 自动关机功能。
　　 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。
　　 操作过程有蜂鸣声提示。
　　 有欠压指示功能。
　　 有错误提示功能。
主要技术指标
　　 测量原理：涡流法
　　 测量范围： 1 ～ 1250μm
　　 测量精度： ± （ 3%H+1.5 ） μm （零点校准）
±[(1 ～ 3)%H+1.5] μm （二点校准）