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深圳蓝之宇电子有限公司
SM5812和SM5852系列为硅微结构OEM压力传感器,结合了*的COMS数字信号处理技术及的压力传感器加工技术生产的具有放大、充分校准、多阶压力修正和温度补偿双列直插式封装的高性能压力传感器。
SM5812/SM5852压阻式压力传感器
SM5812和SM5852系列为硅微结构OEM压力传感器,结合了*的COMS数字信号处理技术及的压力传感器加工技术生产的具有放大、充分校准、多阶压力修正和温度补偿双列直插式封装的高性能压力传感器。
使用*的硅微结构压力传感器,并集成信号调节ASIC技术,大大的简化了高性能压力传感器的使用。SM5812和SM5852系列高性能压力传感器可以直接安装在标准的PCB板上,经过放大、高精确性、校准过的压力信号可以通过数字接口或者模拟输出。这可以省去额外的电路,例如补偿电路或者自定义的微控制器校准电路。
SM5812和SM5852系列压力传感器基于SMI高稳定性安装在陶瓷基板上的压阻式压力芯片,一个可编程ASIC逻辑器件提供了校准和温度补偿。
特点 应用
l 放大、校准和温度补偿高输出跨度(0.5V至4.5V信号) l 数字温度和校准压力可通过I2C接口 l 输出电压与输入电压成比例 l 双列直插式封装易于使用 l 多阶压力、温度非线性修正(工厂编程) l 多级满量程温度系数和零点温度系数校准(工厂编程) l 表压、差压和绝压高性能传感器
| l 气压测量 l 医疗器械 l 气动控制 l 气体流量 l 呼吸器和通风设备 l 暖气、通风及空调 |
性能参数
所有参数在室温25℃,5V直流恒压源供电的条件下测量而得,除非另外规定。
| 绝压、表压和正差压 | 差压 | |||||
zui小值 | 典型值 | zui大值 | zui小值 | 典型值 | zui大值 | 单位 | |
零点输出(绝压和表压) | 0.42 | 0.50 | 0.58 |
|
|
| V |
零点输出(差压) |
|
|
| 2.42 | 2.50 | 2.58 | V |
满量程输出 0.15psi满量程输出 | 3.92 | 4.00 | 4.08 | 1.96 | 2.00 | 2.04 | V FS |
3.80 | 4.00 | 4.20 | 1.90 | 2.00 | 2.10 | V FS | |
线性度 0.15psi 线性度 | -0.5 |
| +0.5 | -0.5 |
| +0.5 | %FS |
-2.5 |
| +2.5 | -2.5 |
| +2.5 | %FS | |
压力迟滞性 5812 5852 | -0.1 |
| +0.1 | -0.1 |
| +0.1 | %FS |
-0.3 |
| +0.3 | -0.3 |
| +0.3 | %FS | |
零点温度系数 0.15psi温度系数 | -1.0 |
| +1.0 | -1.0 |
| +1.0 | %FS |
-2.5 |
| +2.5 | -2.5 |
| +2.5 | %FS | |
满量程温度系数 0.15psi满量程温度系数 | -1.0 |
| +1.0 | -1.0 |
| +1.0 | %FS |
-2.0 |
| +2.0 | -2.0 |
| +2.0 | %FS | |
热迟滞性 | -0.1 |
| +0.1 | -0.1 |
| +0.1 | %FS |
响应时间 | 2 |
|
| 2 |
|
| ms |
供电电压 | 4.75 | 5.00 | 5.25 | 4.75 | 5.00 | 5.25 | V |
耗电电流 |
|
| 10 |
|
| 10 | mA |
过压 5812 5852 | 3X |
|
| 3X |
|
| %FS |
15X |
|
| 15X |
|
| %FS | |
工作温度 | -40 | 25 | +125 | -40 | 25 | +125 | ℃ |
补偿温度 | 0 | 25 | +70 | 0 | 25 | +70 | ℃ |
存储温度 | -55 | 25 | +135 | -55 | 25 | +135 | ℃ |
备注:
1、 只有SM5812系列才有绝压类型
2、 压力类型S(Pressure Type-S)有两个接气端口,用于高增益正差压
3、 输出与输入电压成正比
4、 满量程是指零压力与额定压力之差,差压可以使用±FS。绝压和表压零点输出标准值为0.5V,满量程输出为4.5V,跨度有别于满量程输出和零点输出。对于差压压力传感器而言,负压力的满量程输出标准值为0.5V,零点输出标准值为2.5V;正压力满量程输出标准值为4.5V ±2.0 V跨度输出
5、 低于额定压力(低于0)时饱和放大器输出约为0.25V,高于额定满量程压力时饱和放大器输出约为4.75V
6、 一个100nF的滤波电容必须放置于地与供电脚之间
7、 所测介质必须是清洁、干燥并与材质兼容,材质包括高硼硅玻璃、硅、氧化铝陶瓷、环氧、RTV电子硅胶、黄金、铝和镍
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