电阻应变片的工作原理是基于应变效应制作的，即导体或半导体材料在外界力的作用下产生机械变形时，其电阻值相应的发生变化，这种现象称为“应变效应”。
半导体应变片是用半导体材料制成的，其工作原理是基于半导体材料的压阻效应。压阻效应是指当半导体材料某一轴向受外力作用时，其电阻率发生变化的现象。
应变片是由敏感栅等构成用于测量应变的元件，使用时将其牢固地粘贴在构件的测点上，构件受力后由于测点发生应变，敏感栅也随之变形而使其电阻发生变化，再由仪器测得其电阻变化大小，并转换为测点的应变值。
金属
电阻应变片品种繁多，形式多样，常见的有丝式
电阻应变片和箔式电阻 应变片。
箔式
电阻应变片是一种基于应变——电阻效应制成的，用金属箔作为敏感栅的，能把被测试件的应变量转换成电阻变化量的敏感元件。
除了
电阻应变片这种传统的应变测量方法之外，目前已有研究通过光学测量的方法的应变片。光学应变片是通过摄像头采集应变片图像，按照数字图像处理的办法测量。使用光学应变片的方法的优势在于测量多角度的应变，避免了电阻应变片繁琐的接线以及不能测量多个方向的弊端。
