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东莞市勤卓环境测试设备有限公司>高低温(湿热)试验箱>湿热老化箱>QZX-408G半导体芯片高低温老化测试箱

半导体芯片高低温老化测试箱

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参考价 45200
订货量 1
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 QZX-408G
  • 品牌 勤卓
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 东莞市

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更新时间:2021-11-24 11:05:19浏览次数:279

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产品简介

半导体芯片高低温老化测试箱主要是通过水箱进行专门的供水,若是水质不符合要求就会直接或间接地影响产品的检测和设备的使用寿命。使用安全符合要求的洁净水就可以避免许多因水质问题而造成设备不良的因素,如水箱杂质多、水管堵塞、配件生锈、有异味等。毫无疑问,若是只要求能达到湿度效果,使用普通自来水也可以实现,但是如果长时间使用自来水来进行湿度测试,管道内就很容易产生水垢。

详细介绍

 

一、半导体芯片高低温老化测试箱概述:

       主要是通过水箱进行专门的供水,若是水质不符合要求就会直接或间接地影响产品的检测和设备的使用寿命。使用安全符合要求的洁净水就可以避免许多因水质问题而造成设备不良的因素,如水箱杂质多、水管堵塞、配件生锈、有异味等。毫无疑问,若是只要求能达到湿度效果,使用普通自来水也可以实现,但是如果长时间使用自来水来进行湿度测试,管道内就很容易产生水垢。


二、半导体芯片高低温老化测试箱技术指标:

具体参数

型号

LK -012G

LK -015G

LK -020G

LK -030G

H:0℃~+150℃  C:-20℃~+150℃  L:-40℃~+150℃  U:-60℃~+150℃ J:-70℃~+150℃

测试室尺寸LxDxHcm

100x100x120

  100x100x150

120x120x150

150x120x150

外形尺寸  LxDxHcm

125x194x210  

125x250x203

145x225x203

175x 225x203

温度范围  

                       -40℃~+150℃

湿度范围  

20%-98%RH

解析精度

温度: 0.01℃:湿度: 0.1%RH

温湿度偏差

温度: ±1.0℃; 湿度: ±2.5%RH

升温时间

+20℃~150℃约30 min

降温时间

+20℃~-20C℃≤30min

+20℃~-40℃≤55min

+20℃~-70C ≤75min

材质

外箱:防锈处理冷轧钢板烤漆 内箱: SUS≠304或SUS ≠316不锈钢板

绝缘材料

硬质聚氨酯泡沫料(带阻燃剂)

制冷方式

进口泰康压缩机+鳍片式全铜蒸发器+风冷式冷凝器

制冷剂

美国杜邦HFC系列环保制冷剂: R404A、 R23

压缩机泠量

3.0P*2台

3.0P*2台

3.0P*2台

4.0P*2台

控制器

进口TEMI系列7"触摸式温湿度仪表

电器元件

法国施耐德工控产品、瑞士佳乐、中国台湾阳明等电器元件

加热、加湿

镍铬合金加热管、SUS316制护套式加湿管

循环风机

长轴电机+不锈钢风轮

故障报警

压缩机过流、超压、过热、缺水、加热器无风空焚、加湿器无水干烧、漏电保护、超温保护、欠相、室内超温

水质

纯净水或去离子

电源

380V AC3Φ4W 50/60Hz

大电流(A)

AC380V

23A

25A  

28A

30A

 

其它配件

样品架2块,引线孔硅胶塞1个,钢化除雾玻璃1块

 

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