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Levelflex M FMP 40 微波脉冲式物位测量

参  考  价:面议
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更新时间:2022-03-14 08:02:32浏览次数:818次

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Levelflex M FMP 40 微波脉冲式物位测量

Levelflex M 被设计用于对粉末或小颗粒固体及液体进行连续物位测量。测量不受介质密度、温度变化及气室内粉尘堆积等因素影响。过程连接可以选用¾"以上螺纹和DN40/1½"以上法兰。

  • 缆式探头主要用于测量固体料位,测量范围可达35m/114.83ft

  • 杆式探头主要用于测量液体料位

  • 同轴探头用于测量液体料位

可选以下标准的系统接口:

  • HART(标准),4...20mA

  • PROFIBUS-PA

  • 基金会现场总线

性能和优点

  • 菜单是引导现场操作,四行文本显示

  • 现场显示包络线进行诊断

  • 附送ToF Tool操作软件,可进行操作与诊断

  • 可进行远程操作和显示

  • 采用同轴探头进行测量,可以*不受罐内介质和安装短管上的安装位置等因素的影响

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