宁波北仑建坤测控设备有限公司

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测厚仪测头TT260

参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号F1 N1 F400

品牌

厂商性质代理商

所在地宁波市

更新时间:2022-01-31 08:00:00浏览次数:296次

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TT260测厚仪测头F1 N1 F400:主要配在北京时代TT260测厚上使用,F400测头主要用于一些小直径产品的涂层测厚,F1用于磁性基体上的本导体层的测厚,N1用于非磁性金属上的非导电层测厚。

 

N1探头是涡流法测量的通用标准探头,测量范围0~1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。
工作原理:电涡流 | 分辨力:0.1um。
测量范围:0~1250 | 铜上镀铬0~40um。
示值误差:
一点校准:±[3%H+1]um;
两点校准:±[(1~3)%H+1]um。
测量条件:
zui小曲率半径:凸3mm
基体zui小面积的直径:Ф5mm
zui小临界厚度:0.3mm
探头尺寸:Ф15X73mm




F1探头是磁性法测量的通用标准探头,测量范围0~1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。
工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um。
测量范围:0~1250um。
示值误差:
一点校准:±[3%H+1]um;
两点校准:±[(1~3)%H+1]um。
测量条件:
zui小曲率半径:凸1.5mm
基体zui小面积的直径:Ф7mm
zui小临界厚度:0.5mm
探头尺寸:Ф12X47mm


 
 
涂层测厚仪F400探头
  • 工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um
  • 测量范围:0-400um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+1]um
    2. 两点校准:±[(1~3)%H+0.7]um
  • 测量条件:
    1. zui小曲率半径:凸1mm
    2. 基体zui小面积的直径:Ф3mm
    3. zui小临界厚度:0.2mm
  • 探头尺寸:Ф12X55mm

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