射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人
员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，使用
射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度
是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫
描范围和 1 mHz的分辨率。
员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，使用
射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度
是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫
描范围和 1 mHz的分辨率。
技术指标
基本精度
基本精度 +/-0.8%
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 风格的用户界面
内置 VBA 编程功能
通过 LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
介电/磁性材料测量（选件A903837）
可靠的晶圆测量（选件A903838）
温度特性测量（选件A903839）
基本精度 +/-0.8%
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 风格的用户界面
内置 VBA 编程功能
通过 LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
介电/磁性材料测量（选件A903837）
可靠的晶圆测量（选件A903838）
温度特性测量（选件A903839）
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