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介电常数仪  型号：BDAT-A
一 .概述：  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

二、仪器的技术指标 1．Q值测量  a．Q值测量范围：5～999。  b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。 c．标称误差        频率范围：25kHz～10MHz；        固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；       频率范围：10MHz～50MHz；        固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。 2．电感测量  a．测量范围：0.1μH～1H。 b．分    档：分七个量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．电容测量  a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）； b．电容量调节范围        主调电容器：40～500pF；        准  确  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微调电容量：－3pF～0～＋3pF；       准  确  度：±0.2pF。 4．振荡频率  a．振荡频率范围：25kHz～50MHz； b．频率分档：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．频率误差：2×10-4±1个字。  5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 6．仪器正常工作条件  a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％；  c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．试样尺寸  圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时） 8．其他  a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、实验步骤：  1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压 是否合适，采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。 2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。  3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。 4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测 试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。 5． 将被测样品接在“CX”接线柱上。  6．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，可以直接读出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据， 再取其平均值）。  8.方形式样按其边长的4倍计算Φ值 

四、注意事项  1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面 烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。  2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压 和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。 3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层 电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。  4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。 5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡， “本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应zui小，而无大变化。

附录一、测试原理简介  一、仪器的工作原理 1．“Q”的定义       Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件（电感或电容）来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。它以89C51单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。压控信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号，频率从25kHz-50MHz，共分为七个波段。信号源的频率受频率调谐和数字锁定单元的控制。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送回信号激励单元，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号源的另一路输出送到频率计数电路，在这里完成对信号的整形，预计数，然后再送到CPU实现计数。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后经数码取样转换，送到控制中心CPU去进行数据处理，同时再送给面板Q调谐指示表。由控制中心CPU处理过的频率值，Q值等其它需显示数据送到显示控制CPU，由显示控制CPU完成面板显示的控制。   

二、结构特性      采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图三面板示意图。面板左半部是频率和Q值显示，操作按键和频率调谐钮所在部位。面板右半部是调谐回路的主，付调电容所在部位。仪器的频段控制，标频设定，谐振点搜索，Q值合格点设置都以轻触按键实现控制，频率调谐由数码开关完成，面板上无一可调电位器，*地简化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能键说明：  1．频率显示数码管，共5位。 2．频率单位指示灯，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示灯，超过已设置的值时灯亮。 4．Q值指示数码管，共3位。  5．工作频段选择按键，每按一次，切换至低一个频段工作。 6．工作频段指示灯，表格内为对应的频段工作频率范围。7．工作频段选择按键，每按一次，切换至高一个频段工作。  8．工作频段内，标准测试频率设置按键，各段内标准测试频率见面板功能部分。  9．器件谐振点搜索按键，右上角指示灯亮时表示仪器正工作在自动搜索。如 需退出搜索，再按此键。 10．频率调谐数码开关。  11．Q值合格比较值设定按键。 12．Q值调谐指示表。  13．对应各工作频段的电感测量范围和标准测试频率表。  14．调谐回路的付调谐电容器调谐旋钮，它与主调谐电容并联，旋钮上方对 应的窗口内是该电容的变化范围指示刻度盘（－3～+3P）。  15．调谐回路的主调电容调谐旋钮，上方对应的窗口内为主调电容的电容值 和谐振时对应的测试电感值刻度盘。 16．电源开关  17．测试回路接线柱，左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端。

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介电常数仪  型号：BDAT-A
一 .概述：  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

二、仪器的技术指标 1．Q值测量  a．Q值测量范围：5～999。  b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。 c．标称误差        频率范围：25kHz～10MHz；        固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；       频率范围：10MHz～50MHz；        固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。 2．电感测量  a．测量范围：0.1μH～1H。 b．分    档：分七个量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．电容测量  a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）； b．电容量调节范围        主调电容器：40～500pF；        准  确  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微调电容量：－3pF～0～＋3pF；       准  确  度：±0.2pF。 4．振荡频率  a．振荡频率范围：25kHz～50MHz； b．频率分档：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．频率误差：2×10-4±1个字。  5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 6．仪器正常工作条件  a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％；  c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．试样尺寸  圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时） 8．其他  a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、实验步骤：  1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压 是否合适，采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。 2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。  3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。 4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测 试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。 5． 将被测样品接在“CX”接线柱上。  6．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，可以直接读出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据， 再取其平均值）。  8.方形式样按其边长的4倍计算Φ值 

四、注意事项  1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面 烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。  2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压 和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。 3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层 电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。  4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。 5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡， “本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应zui小，而无大变化。

附录一、测试原理简介  一、仪器的工作原理 1．“Q”的定义       Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件（电感或电容）来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。它以89C51单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。压控信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号，频率从25kHz-50MHz，共分为七个波段。信号源的频率受频率调谐和数字锁定单元的控制。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送回信号激励单元，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号源的另一路输出送到频率计数电路，在这里完成对信号的整形，预计数，然后再送到CPU实现计数。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后经数码取样转换，送到控制中心CPU去进行数据处理，同时再送给面板Q调谐指示表。由控制中心CPU处理过的频率值，Q值等其它需显示数据送到显示控制CPU，由显示控制CPU完成面板显示的控制。   

二、结构特性      采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图三面板示意图。面板左半部是频率和Q值显示，操作按键和频率调谐钮所在部位。面板右半部是调谐回路的主，付调电容所在部位。仪器的频段控制，标频设定，谐振点搜索，Q值合格点设置都以轻触按键实现控制，频率调谐由数码开关完成，面板上无一可调电位器，*地简化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能键说明：  1．频率显示数码管，共5位。 2．频率单位指示灯，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示灯，超过已设置的值时灯亮。 4．Q值指示数码管，共3位。  5．工作频段选择按键，每按一次，切换至低一个频段工作。 6．工作频段指示灯，表格内为对应的频段工作频率范围。7．工作频段选择按键，每按一次，切换至高一个频段工作。  8．工作频段内，标准测试频率设置按键，各段内标准测试频率见面板功能部分。  9．器件谐振点搜索按键，右上角指示灯亮时表示仪器正工作在自动搜索。如 需退出搜索，再按此键。 10．频率调谐数码开关。  11．Q值合格比较值设定按键。 12．Q值调谐指示表。  13．对应各工作频段的电感测量范围和标准测试频率表。  14．调谐回路的付调谐电容器调谐旋钮，它与主调谐电容并联，旋钮上方对 应的窗口内是该电容的变化范围指示刻度盘（－3～+3P）。  15．调谐回路的主调电容调谐旋钮，上方对应的窗口内为主调电容的电容值 和谐振时对应的测试电感值刻度盘。 16．电源开关  17．测试回路接线柱，左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端。

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介电常数仪  型号：BDAT-A
一 .概述：  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

二、仪器的技术指标 1．Q值测量  a．Q值测量范围：5～999。  b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。 c．标称误差        频率范围：25kHz～10MHz；        固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；       频率范围：10MHz～50MHz；        固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。 2．电感测量  a．测量范围：0.1μH～1H。 b．分    档：分七个量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．电容测量  a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）； b．电容量调节范围        主调电容器：40～500pF；        准  确  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微调电容量：－3pF～0～＋3pF；       准  确  度：±0.2pF。 4．振荡频率  a．振荡频率范围：25kHz～50MHz； b．频率分档：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．频率误差：2×10-4±1个字。  5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 6．仪器正常工作条件  a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％；  c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．试样尺寸  圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时） 8．其他  a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、实验步骤：  1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压 是否合适，采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。 2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。  3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。 4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测 试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。 5． 将被测样品接在“CX”接线柱上。  6．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，可以直接读出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据， 再取其平均值）。  8.方形式样按其边长的4倍计算Φ值 

四、注意事项  1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面 烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。  2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压 和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。 3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层 电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。  4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。 5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡， “本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应zui小，而无大变化。

附录一、测试原理简介  一、仪器的工作原理 1．“Q”的定义       Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件（电感或电容）来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。它以89C51单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。压控信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号，频率从25kHz-50MHz，共分为七个波段。信号源的频率受频率调谐和数字锁定单元的控制。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送回信号激励单元，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号源的另一路输出送到频率计数电路，在这里完成对信号的整形，预计数，然后再送到CPU实现计数。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后经数码取样转换，送到控制中心CPU去进行数据处理，同时再送给面板Q调谐指示表。由控制中心CPU处理过的频率值，Q值等其它需显示数据送到显示控制CPU，由显示控制CPU完成面板显示的控制。   

二、结构特性      采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图三面板示意图。面板左半部是频率和Q值显示，操作按键和频率调谐钮所在部位。面板右半部是调谐回路的主，付调电容所在部位。仪器的频段控制，标频设定，谐振点搜索，Q值合格点设置都以轻触按键实现控制，频率调谐由数码开关完成，面板上无一可调电位器，*地简化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能键说明：  1．频率显示数码管，共5位。 2．频率单位指示灯，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示灯，超过已设置的值时灯亮。 4．Q值指示数码管，共3位。  5．工作频段选择按键，每按一次，切换至低一个频段工作。 6．工作频段指示灯，表格内为对应的频段工作频率范围。7．工作频段选择按键，每按一次，切换至高一个频段工作。  8．工作频段内，标准测试频率设置按键，各段内标准测试频率见面板功能部分。  9．器件谐振点搜索按键，右上角指示灯亮时表示仪器正工作在自动搜索。如 需退出搜索，再按此键。 10．频率调谐数码开关。  11．Q值合格比较值设定按键。 12．Q值调谐指示表。  13．对应各工作频段的电感测量范围和标准测试频率表。  14．调谐回路的付调谐电容器调谐旋钮，它与主调谐电容并联，旋钮上方对 应的窗口内是该电容的变化范围指示刻度盘（－3～+3P）。  15．调谐回路的主调电容调谐旋钮，上方对应的窗口内为主调电容的电容值 和谐振时对应的测试电感值刻度盘。 16．电源开关  17．测试回路接线柱，左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端。

北京北广精仪仪器设备有限公司专业北京*产品
介电常数仪  型号：BDAT-A
一 .概述：  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

二、仪器的技术指标 1．Q值测量  a．Q值测量范围：5～999。  b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。 c．标称误差        频率范围：25kHz～10MHz；        固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；       频率范围：10MHz～50MHz；        固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。 2．电感测量  a．测量范围：0.1μH～1H。 b．分    档：分七个量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．电容测量  a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）； b．电容量调节范围        主调电容器：40～500pF；        准  确  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微调电容量：－3pF～0～＋3pF；       准  确  度：±0.2pF。 4．振荡频率  a．振荡频率范围：25kHz～50MHz； b．频率分档：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．频率误差：2×10-4±1个字。  5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 6．仪器正常工作条件  a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％；  c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．试样尺寸  圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时） 8．其他  a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、实验步骤：  1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压 是否合适，采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。 2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。  3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。 4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测 试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。 5． 将被测样品接在“CX”接线柱上。  6．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，可以直接读出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据， 再取其平均值）。  8.方形式样按其边长的4倍计算Φ值 

四、注意事项  1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面 烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。  2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压 和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。 3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层 电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。  4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。 5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡， “本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应zui小，而无大变化。

附录一、测试原理简介  一、仪器的工作原理 1．“Q”的定义       Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件（电感或电容）来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。它以89C51单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。压控信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号，频率从25kHz-50MHz，共分为七个波段。信号源的频率受频率调谐和数字锁定单元的控制。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送回信号激励单元，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号源的另一路输出送到频率计数电路，在这里完成对信号的整形，预计数，然后再送到CPU实现计数。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后经数码取样转换，送到控制中心CPU去进行数据处理，同时再送给面板Q调谐指示表。由控制中心CPU处理过的频率值，Q值等其它需显示数据送到显示控制CPU，由显示控制CPU完成面板显示的控制。   

二、结构特性      采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图三面板示意图。面板左半部是频率和Q值显示，操作按键和频率调谐钮所在部位。面板右半部是调谐回路的主，付调电容所在部位。仪器的频段控制，标频设定，谐振点搜索，Q值合格点设置都以轻触按键实现控制，频率调谐由数码开关完成，面板上无一可调电位器，*地简化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能键说明：  1．频率显示数码管，共5位。 2．频率单位指示灯，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示灯，超过已设置的值时灯亮。 4．Q值指示数码管，共3位。  5．工作频段选择按键，每按一次，切换至低一个频段工作。 6．工作频段指示灯，表格内为对应的频段工作频率范围。7．工作频段选择按键，每按一次，切换至高一个频段工作。  8．工作频段内，标准测试频率设置按键，各段内标准测试频率见面板功能部分。  9．器件谐振点搜索按键，右上角指示灯亮时表示仪器正工作在自动搜索。如 需退出搜索，再按此键。 10．频率调谐数码开关。  11．Q值合格比较值设定按键。 12．Q值调谐指示表。  13．对应各工作频段的电感测量范围和标准测试频率表。  14．调谐回路的付调谐电容器调谐旋钮，它与主调谐电容并联，旋钮上方对 应的窗口内是该电容的变化范围指示刻度盘（－3～+3P）。  15．调谐回路的主调电容调谐旋钮，上方对应的窗口内为主调电容的电容值 和谐振时对应的测试电感值刻度盘。 16．电源开关  17．测试回路接线柱，左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端。

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介电常数仪  型号：BDAT-A
一 .概述：  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

二、仪器的技术指标 1．Q值测量  a．Q值测量范围：5～999。  b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。 c．标称误差        频率范围：25kHz～10MHz；        固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；       频率范围：10MHz～50MHz；        固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。 2．电感测量  a．测量范围：0.1μH～1H。 b．分    档：分七个量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．电容测量  a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）； b．电容量调节范围        主调电容器：40～500pF；        准  确  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微调电容量：－3pF～0～＋3pF；       准  确  度：±0.2pF。 4．振荡频率  a．振荡频率范围：25kHz～50MHz； b．频率分档：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．频率误差：2×10-4±1个字。  5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 6．仪器正常工作条件  a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％；  c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．试样尺寸  圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时） 8．其他  a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、实验步骤：  1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压 是否合适，采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。 2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。  3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。 4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测 试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。 5． 将被测样品接在“CX”接线柱上。  6．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，可以直接读出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据， 再取其平均值）。  8.方形式样按其边长的4倍计算Φ值 

四、注意事项  1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面 烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。  2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压 和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。 3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层 电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。  4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。 5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡， “本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应zui小，而无大变化。

附录一、测试原理简介  一、仪器的工作原理 1．“Q”的定义       Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件（电感或电容）来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。它以89C51单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。压控信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号，频率从25kHz-50MHz，共分为七个波段。信号源的频率受频率调谐和数字锁定单元的控制。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送回信号激励单元，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号源的另一路输出送到频率计数电路，在这里完成对信号的整形，预计数，然后再送到CPU实现计数。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后经数码取样转换，送到控制中心CPU去进行数据处理，同时再送给面板Q调谐指示表。由控制中心CPU处理过的频率值，Q值等其它需显示数据送到显示控制CPU，由显示控制CPU完成面板显示的控制。   

二、结构特性      采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图三面板示意图。面板左半部是频率和Q值显示，操作按键和频率调谐钮所在部位。面板右半部是调谐回路的主，付调电容所在部位。仪器的频段控制，标频设定，谐振点搜索，Q值合格点设置都以轻触按键实现控制，频率调谐由数码开关完成，面板上无一可调电位器，*地简化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能键说明：  1．频率显示数码管，共5位。 2．频率单位指示灯，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示灯，超过已设置的值时灯亮。 4．Q值指示数码管，共3位。  5．工作频段选择按键，每按一次，切换至低一个频段工作。 6．工作频段指示灯，表格内为对应的频段工作频率范围。7．工作频段选择按键，每按一次，切换至高一个频段工作。  8．工作频段内，标准测试频率设置按键，各段内标准测试频率见面板功能部分。  9．器件谐振点搜索按键，右上角指示灯亮时表示仪器正工作在自动搜索。如 需退出搜索，再按此键。 10．频率调谐数码开关。  11．Q值合格比较值设定按键。 12．Q值调谐指示表。  13．对应各工作频段的电感测量范围和标准测试频率表。  14．调谐回路的付调谐电容器调谐旋钮，它与主调谐电容并联，旋钮上方对 应的窗口内是该电容的变化范围指示刻度盘（－3～+3P）。  15．调谐回路的主调电容调谐旋钮，上方对应的窗口内为主调电容的电容值 和谐振时对应的测试电感值刻度盘。 16．电源开关  17．测试回路接线柱，左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端。