PHYNIX Surfix BF 外置探头铁基基本型测厚仪
技术参数：
测量范围
| 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±(1µm+1%读数） |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
基体zui小面积 | 5mmX5mm |
基体zui小曲率 | 凸面：1.5mm凹面：5mm |
基体zui小厚度 | F型：0.2mm ,N型： 50µm |
校准 | 厂家校准，零校准，校准箔校准 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃（可选配150℃） |
电源 | 两节1.5伏五号碱性电池 |
仪器尺寸 | 137x66x23mm |
符合标准 | DIN，ISO，ASTM，BS |
特点:
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示
4.可测铁基体上涂镀层
5.基体上涂层,量程1500μm
6.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
7.有红外可接PC及打印机
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