上海两箱式温度冲击试验箱
型号：BYR系列
产品介绍：上海两箱式温度冲击试验箱：为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。
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一、特点
1、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求
2、采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行
3、除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成
4、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能
5、感测器放置测试区出（回）风口符合实验有效性
6、机台多处报警监测，配置无线远程报警功能
7、水路和水位控制与电控系统隔离安装，安全可靠性高(宝元通产品)
二、两箱式温度冲击试验箱技术参数
5. 性能指標 |
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5.2 测试方法 | 环境温度： +5℃～+30℃ |
5.3.高温室 | |
5.3.1预热温度范围 | +60℃～+200℃ |
5.3.2.升温时间 | +60℃→+200℃ ≤25min |
5.4.低温室 | |
5.4.1预冷温度范围 | -65℃ ～ -10℃ |
5.4.2降温时间 | +20℃ → -55℃≤55 min |
5.5.试验室（试样区） | |
5.5.1. 试验方式 | 气动风门切换2温区或3温区，风速调节 |
5.5.2.RAMP应力 筛选 | +125℃～ -40℃ 溫變率：5～30℃/MIN |
5.5.3温度冲击范围 | （+60～+125）℃/（-40～-10）℃ |
5.5.4温度波动度 | ±0.5℃ |
5.5.5温度偏差 | ±2.0℃ |
5.5.6温度恢复时间 | ≤5min |
三、两箱式温度冲击试验箱满足标准
GB/T2423.22-2002 试验N：温度变化试验方法 试验Na
EIA-364-32 冷热冲击试验
IEC6008-2-14 溫度變化
GJB 150.5-1986 温度冲击试验
符合:MIL、IEC、JIS、IPC…应力筛选RAMP（负载参见5.5.7，发热负载≤50W）
四、售后服务
1、整机免费保修12个月，因质量不良或制造之故障可免费维修(消耗品不在免费范围内)
2、达到保修期后享有维修服务
3、产品由本公司技术服务部的专业技术员进行售后服务。
4、产品由工程技术人员现场免费安装调试，免费培训1-2名系统操作员。
5、接到客户服务要求，在15分钟内安排技术回访，在8小时之内为客户提供解决方案,如需免费*立即派人前往
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