BMH-J3数显薄膜测厚仪

2009年11月11日

【资料简介】

BMH-J3型数显薄膜测厚仪（千分尺）

一、 薄膜测厚仪主要技术指标：

测量厚度范围：（0-25）mm

测厚仪分辨率：0.001mm

电源：氧化银电池SR44

工作温度：0℃～+40℃

储运温度：-20～+70℃

相对湿度：≤80%

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