镀锡X射线无损测厚仪XRF-2020系列

镀锡X射线无损测厚仪XRF-2020系列

铜上镀锡

测范围0.3-50um

韩国微先锋XRF-2020

X射线无损镀层测厚仪

Micropioneer微先锋

产地：韩国

型号：

XRF-2020H

XRF-2020L

功能：

检测电子电镀,五金电镀,半导体，LED支架端子连接器等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

XRF-2020韩国电镀测厚仪测量范围

 镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um 

XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm

XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品

XRF-2020镀层测厚仪：可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等

不限底材。

如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等

双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材

多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材

合金镀层如：铁上镀锌镍等。不限底材

XRF-2020测厚仪

L型测量样品高3cm内

H型测量样品高10cm内

长宽均为55cm

铜基材上镀锡测范围0.3-50um

镀锡X射线无损测厚仪XRF-2020系列

韩国微先锋XRF-2020镀层测厚仪