J200飞秒激光剥蚀进样系统

J200飞秒激光剥蚀进样系统有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式，用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式，具备智能输送和补充气控制功能，使每种气体按预定的方式达到设定值，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。

基本信息：
1、认证：CE认证；
2、LIBS检测器：
3、Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器；
4、自动X-Y轴：100 mm X 100 mm 行程范围，分辨率0.2微米；
5、延保：可签署多年质保和服务协议；
6、供电要求：110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A；
7、可选项： LA升级为Tandem系统。

设备特点：
1、测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况；
2、同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态；
3、两个相机提供广角和放大的样品图像和广角图像呈现；
4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态；
5、系统能完成具挑战性的化学分析工作；
6、确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号；
7、剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质。

J200飞秒激光剥蚀进样系统无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量，用户可*依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS系统，ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，J200系统产生的样品颗粒均匀一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，运输效率高，J200LA-fs系列剥蚀样品精度高，且没有热效应。