集成电路高温动态老化系统

集成电路高温动态老化系统
产品详情
符合标准：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB 597（等同MIL-M-38510）
适用范围：
适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微电子电路进行高温动态老化试验。
工作特性:
● 一板一区工作方式，zui多可同时进行16种规格、批次的器件进行筛选试验，适应多品种、小批量。
● 超温报警装置，确保温度条件安全施加。
● 可检测各组电源工作情况及试验箱温度并描绘其与时间相关的曲线。
● 软件全编辑信号产生方式，可满足包括存储器在内的多种集成电路器件的动态老化要求。
● 集成的用户软件包基于WINDOWS平台开发，功能完备并有良好的可扩展性。
●　主从式RS485全双工高速串行通讯接口，远距离通讯能力强，数据传输安全可靠。
●　试验容量和系统分区可根据实际情况另行配置。
●　试验箱可选择两个小型试验箱，每个试验箱装8块老化板，可同时进行两个温度条件的试验。
●　可提供调式台，具备独立的DUT试运行接口和维修接口，方便试验前或试验中对DUT和老化板进行试验状态检查。
电子电路进行高温动态老化试验。
技术性能：
型 号 ELEA-V ELEH-V
系统分区 16区（标准）
试验容量 208×16（以DIP14计） /
试验温度 zui高150℃
数字信号路数 每板64路 每板8路
数字信号 每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性；信号zui高频率：2MHz；zui小编程分辨率100ns，zui小编程步长100ns；编程深度256k；信号幅度程控范围：2.0V～18.0V；zui大寻址深度：64G；数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程；
模拟信号 多路多种类模拟信号发生单元及驱动电路，zui高频率可达1MHz;zui大驱动电流：1A;信号幅度Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp；
试验状态监测 64路信号示波监测接口；宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录；二级电源电压监测；
二级电源电流、信号峰值监测（可选）
通讯速率 500K
二级电源 可程控VCC、VMUX、VEE；
输出能力：2V～18V/10A；
具备灌电流能力； 2组正电源：VCC1（+2V~+36V）、VCC2（+2V~+36V）；
2组负电源：VEE1（-2V~-36V）、VEE2（-2V~-36V）；电流为zui大10A；
具有过流、过压及过热保护功能；
电源要求 输入：AC380V,50Hz,三相（220V单相可选）；
整机功率：8kW以下 整机功率：12kW以下
重 量 约500kg
外形尺寸 （宽×高×深） 1313mm×1950mm×1350mm