介质损耗因数和正切角测试仪

一、LDJD-B 介质损耗因数和正切角测试仪 适用标准

GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》

LDJD-B型介质损耗因数测试仪适用于10kHZ-110MHZ下固体电气绝缘材料的电容率和介质损耗因数

二、主要参数

1.信号源频率覆盖范围10kHz～110MHz

2.环境温度：0℃～+40℃；

3.消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

4.主电容调节范围：30～540pF

5.电容直接测量范围：1pF～2.5uF

6.Q值测量范围：1～1023，Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

7.S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆

平板电容器：

极片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可选

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm可选  厚度可调 ≥ 15mm 

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

8. 主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280

三、术语和定义

1.介质损耗角δ dielectric loss angle

由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。

2.介质损耗因数 tanδ dielectric dissipation factor

损耗角δ的正切。

3.〔介质〕损耗指数 ε_r [dielectric] loss index

该材料的损耗因数tanδ与相对电容率ε_r的乘积。

四、影响介电性能的因素

下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

1  频率

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的ε_r和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。

2  温度

损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。

3  湿度

极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。

注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。

4  介质损耗因数和正切角测试仪电场强度

存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。

在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。