传统的充/放电电容测量方式存在以下的问题:
- 在充/放电检测过程中,容易受到EMC干扰;
- 没有理想的电容,每个电容都有寄生参数的存在;
- 电路中始终存在因环境因素而变化的等效并联电阻。
AS8579根据测量阻抗值原理进行设计,内部集成了模拟多路复用器(MUX),多达10路的阻抗值检测通道。MCU可从AS8579中读取每个通道所采集的I和Q分量,从任意两个通道测量的结果中推导出电容值,这样的测量方式去除了等效并联电阻的影响,直接计算出最准确的电容值。

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AS8579根据测量阻抗值原理进行设计,内部集成了模拟多路复用器(MUX),多达10路的阻抗值检测通道。MCU可从AS8579中读取每个通道所采集的I和Q分量,从任意两个通道测量的结果中推导出电容值,这样的测量方式去除了等效并联电阻的影响,直接计算出最准确的电容值。
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